Программное обеспечение Amptek Electron Probe X-Ray Analyzer (EPXA) для приложений EDS / SEM

Описание

XRS-FP2 теперь имеет встроенные режимы анализа. В зависимости от приобретенных опций программного обеспечения XRS-FP2 может работать в режиме XRF (объемного или многослойного) или в режиме EPXA. При работе в режиме EPXA программное обеспечение настраивается для спектров, полученных на SEM, оснащенном детектором EDS. Программное обеспечение работает на стандартных ПК и операционных системах (Windows XP и более поздних версий). Возможен полный анализ ZAF с использованием стандартов или без них, используя внутреннюю базу данных фундаментальных параметров (FP), таких как коэффициенты поглощения, выходы флуоресценции, вероятности переходов и т.д. Также имеется встроенный дисплей спектра.