Программное обеспечение для количественного рентгеновского анализа Amptek XRS-FP2

Описание

XRS-FP2 — это программный пакет следующего поколения для количественного анализа материалов с использованием рентгенофлуоресценции (XRF). Единый интегрированный программный пакет может использоваться в 3 различных режимах для различных применений: — Однослойные образцы для анализа состава и толщины одного слоя (XRS-FP2 BULK) — Многослойные тонкопленочные образцы для анализа состава и толщины слоев (XRS-FP2 MTF) — Однослойные образцы для определения состава и толщины одного слоя с использованием падающего электронного луча вместо рентгеновского (XRS-FP2 EPXA)